Egger Florian
Ansteuerung der Sensoren und live visuallisierung der Daten
Willkommen
Herzlich willkommen auf unserer Projektseite. Auf dieser Homepage erhalten Sie Informationen rund um das Projekt Überwachung und Visualisierung von Temperatur und Luftfeuchtigkeit in einer Klimakammer.
Kurzbeschreibung
DeutschBei der Firma KAI werden Stresstests bei Halbleitern durchgeführt. Diese Stresstests werden durch Klimakammern beschleunigt. Für solche Tests werden Platinen mit diversen elektronischen Bauteilen bei Temperaturen zwischen ca. 120°C und ca. -40°C über Wochen getestet. Dabei ergeben sich oftmals Komplikationen mit diversen Bauteilen (z.B. Überhitzungen). Unsere Aufgabe ist es, ein PCB zu designen, auf dem Sensoren für die Messung der Umgebungstemperatur, der relativen Luftfeuchtigkeit sowie für die Temperatur einzelner Bauteile zur Verfügung stehen. Mit den gemessenen Daten werden wir die Verteilung der Temperatur und Luftfeuchtigkeit in der Klimakammer bestimmen. Außerdem sollen diverse Bauteile auch individuell überwacht werden können.
Dieses Projekt wird gemeinsam mit einem Wirtschaftspartner durchgeführt:
English At the company KAI, stress tests are conducted on semiconductors. These stress tests are accelerated by climate chambers. For such tests, circuit boards with various electronic components are tested at temperatures between approximately 120 °C and -40 °C over the course of several weeks. During this process, complications often arise with various components (e.g., overheating). Our task is to design a PCB that provides sensors for measuring ambient temperature, relative humidity, as well as the temperature of individual components. Using the measured data, we will determine the distribution of temperature and humidity inside the climate chamber. In addition, various components should be monitored individually.